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NI, 고급 자동화 테스트를 위한 200MHz 계측기와 섀시 발표

내쇼날인스트루먼트(웹사이트 ni.com/korea)는 고급 자동화 테스트 어플리케이션을 위한 32-채널 PXI Express 기반 디지털 계측기와 8-슬롯 고대역폭 PXI Express 3U 섀시를 발표했다. NI PXIe-6544/45 전압 선택가능 디지털 파형 생성기/분석기는 각각 최고 100 및 200 MHz의 클럭 속도를 제공하여 테스트 어플리케이션을 최적화한다. NI PXIe-6545는 660 MB/s의 스트리밍 속도를 제공하는 업계에서 가장 빠른 스트리밍 디지털 테스트 제품 중 하나이다. 새로 출시된 디지털 계측기는 호스트 메모리에 또는 호스트 메모리로부터 대량의 데이터를 신속히 전송하는 고속 반도체 디바이스와 HD(High-Definition) 멀티미디어 구성요소의 정교한 분석을 수행한다. NI PXIe-1082 섀시는 7개의 PXI Express 주변 슬롯을 갖춘 업계 최초의 3U 8-슬롯 PXI Express 섀시로서 슬롯 당 최고 1 GB/s와 최고 4 GB/s의 전체 시스템 대역폭으로 생성기/분석기를 보완한다.

“새로 출시된 계측기들은 보다 빠른 반도체 칩과 높은 데이터 전송 속도가 필요한 멀티미디어 디바이스를 테스트하는 데 필요한 성능과 유연성을 제공하도록 내쇼날인스트루먼트의 PXI 디지털 테스트 기능을 확장하였습니다. 이 PXI Express 제품의 출시로 인해 테스트 업계가 개방형의 상용 PXI 기반 솔루션으로 급격히 이동하게 될 것입니다”라고 내쇼날인스트루먼트의 테스트 마케팅 부사장인 Eric Starkloff는 전했다.

NI PXIe-6544/45 모듈의 고급 연산을 이용하면 아날로그-디지털 컨버터 (ADC), 디지털-아날로그 컨버터 (DAC), 메모리 디바이스, ASIC 그리고 마이크로컨트롤러와 같이 보다 빠른 반도체 디바이스를 정확하게 자동화 시켜 테스트할 수 있다. 이 제품이 출시되기 전의 한 예로, 200 MS/s DAC 테스트의 경우 고속 패턴 생성기와 오실로스코프 그리고 파워 서플라이가 필요했었다. 새로 출시된 NI PXIe-6545 생성기/분석기와 NI PXIe-1082 섀시를 이용하면 소형 크기의 소프트웨어 정의 모듈형 계측으로 특성화 및 제품 테스트를 수행할 수 있다.

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