제덱스, 반도체용 정전척·스퍼터링 타겟·FOUP 파티클 검사장치 출시나노급 공정 대응 장치로 신규 개발임승환 기자2026-02-23 09:23:00댓글 0every1q84year@gmail.com content_copy 가− 가+ link # 태그 #제덱스 #JEDEX #M802ESC #반도체 파티클 검사 #정전척 검사 #ESC 검사장비 #스퍼터링 타겟 검사 #FOUP 파티클 #반도체 검사장비 #나노 파티클 측정 #입자 계수기 #반도체 수율 관리 #클린룸 검사 시스템 #ULPA Class1 #반도체 공정 품질 관리 chevron_left 이전 기사삼성전자, AI 에이전트 추가 옵션 제공을 통해 한층 더 고도화된 갤럭시 AI 경험 지원다음 기사에이아이스타, KAIST AI 데이터 추출 기술 이전 완료 chevron_right 관련 기사자체뉴스[인터뷰] (주)대동금속, 자동화 생산체계 기반 케이블트레이 경쟁력 강화2026-10-12 08:32:46보도자료EV Group, 웨이퍼 본딩·NIL로 차세대 CPO 제조 해법 제시2026-09-29 10:08:05보도자료애니모션텍, ‘제23회 국제 반도체 기판 및 첨단 패키징 산업전’ 참가2026-09-04 11:03:15 댓글 0로그인 후 댓글을 작성할 수 있습니다.
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