NI, 반도체 특성화 및 테스트에 최적화된 PXI 모듈 출시

반도체에 이상적인 디지털 per-pin 파라미터 측정 및 다채널 소스 측정 유닛 모듈

내쇼날인스트루먼트는 새로운 PPMU (per-pin parametric measurement unit) 모듈과 소스 측정 유닛 (SMU) 모듈의 출시를 통해 반도체 특성화 및 생산 테스트를 위한 PXI 플랫폼의 기능을 확장했다. NI PXIe-6556 200 MHz 고속 디지털 I/O (PPMU)와 NI PXIe-4140 및 NI PXIe-4141 4-채널 SMU는 장비 투자 비용과 테스트 시간은 줄이고 테스트 중인 여러 디바이스에 대한 혼합 신호 측정 유연성은 증가시켰다. NI PXIe-6556 고속 디지털 I/O 모듈을 이용하면 최고 200 MHz로 디지털 웨이브폼을 생성하고 수집할 수 있거나 1 퍼센트의 정확도로 동일한 핀에서 DC 파라미터 측정을 수행하여 케이블 연결을 단순화하고 테스트 시간은 줄이며 테스트 장비의 밀도는 높여준다. 또한 테스트 중인 디바이스와 연결되는 케이블과 트레이스 길이가 다르기 때문에 발생하는 문제를 해결할 수 있는데, 그 방법은 타이밍을 자동으로 조정하는 내장된 타이밍 교정 기능을 이용하여 타이밍 스큐를 거의 제거하는 것이다.

NI PXIe-6556은 보다 높은 정밀도를 위한 스위치 모듈 옵션을 제공하기 때문에 하드웨어 또는 소프트웨어 트리거를 기반으로 파라미터 측정을 트리거링할 수 있다. NI LabVIEW 시스템 디자인 소프트웨어를 새로운 PPMU 및 SMU 모듈에 사용하면 반도체 테스트에 모듈형 소프트웨어 정의 방식을 적용하여 품질은 높이고, 비용은 낮추며, 검증, 특성화 및 생산 전반의 테스트 시간은 줄여준다. LabVIEW는 프로그래밍 언어의 유연성과 고급 엔지니어링 툴의 기능을 결합하였기 때문에 엔지니어 고유의 요구사항들을 충족시킬 수 있다.

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